是德科技推出新型并行参数测试系统 助力实施经济高效的高吞吐量晶圆测试

12月7日消息，是德科技公司日前宣布，推出新型 KeysightP9002A 并行参数测试系统。该系统可以实现高吞吐量、经济高效的晶圆测试，从而加速产品上市，降低制造测试成本。是德科技提供先进的设计和验证解决方案，旨在加速创新，创造一个安全互联的世界。

目前，全球半导体供应不足导致半导体的需求尤其是在汽车行业、数字设备和家用电器行业不断地加大。半导体技术创新虽然进展迅速，然而该行业在适应新材料、降低外形尺寸以及 3D 封装工艺方面遇到了一系列技术挑战。此外，针对 5G、数据中心、人工智能（AI）和汽车等商业应用而设计的各种复杂器件也导致了测试参数有增无减。

为了应对这一挑战并使得制造商能够快速提升产能，是德科技推出了新型 P9002A 并行参数测试系统。该系统可以实现高吞吐量、经济高效的晶圆测试。它采用了一个灵活的选件结构，可用于最多 100 个通道并行测试资源，有能力对每个测试资源执行参数测试。是德科技 P9000 系列运行的软件可以与 SPECS 软件兼容，后者运行在4080 系列参数测试系统上，因此客户能够充分利用有数据关联性的现有测试程序和测试计划。

是德科技的新型 P9002A 并行参数测试系统具有以下关键优势：

能够根据测试要求添加选件，采用了有利于控制成本预算的许可证结构。

与 4080 系列参数测试系统相比，独特的参数测试技术和快速电容测量可显著提高测试吞吐量。

可以兼容 Keysight 4080 系列参数测试系统并关联数据，使得客户能够充分利用其现有测试系统程序、测试计划、探针卡及兼容 4080 测试系统的探针卡适配器，从而最大限度降低搭建新 P9002A 测试环境的成本。

是德科技副总裁兼晶圆测试解决方案总经理 Shinji Terasawa 表示：“是德科技非常高兴通过 P9002A 测试系统之类的先进测量解决方案为日新月异的半导体研发和制造提供支持。是德科技致力于运用我们在参数测试方面的成熟经验和专业知识帮助客户应对业务挑战，这个新解决方案就反映了我们做出的承诺。”

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